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        電子器件主要包括元件和器件，電子元件是生產(chǎn)過程中分子組成不變的產(chǎn)物，如：電容、電阻、電感等。電子設(shè)備是產(chǎn)生加工過程中改變分子結(jié)構(gòu)的產(chǎn)物，如：電子管，集成電路等。感應(yīng)元件主要包括變壓器、電感、濾波線圈、振蕩線圈等。

電子器件主要包括元件和器件，BUF420AW電子元件是生產(chǎn)過程中分子組成不變的產(chǎn)物，如：電容、電阻、電感等。電子設(shè)備是產(chǎn)生加工過程中改變分子結(jié)構(gòu)的產(chǎn)物，如：電子管，集成電路等。

阻力型元件

電阻器在電子設(shè)備中的故障占了很大比例，電阻器可分為分流、降壓、負(fù)載、阻抗匹配等功能。電阻類元件按結(jié)構(gòu)可分為線繞電阻和非線繞電阻。

電阻性元件的主要失效方式是接觸損壞，開路和引線機(jī)械損壞。

變溫對電阻的影響主要有溫度升高、電阻的熱噪聲增大、電阻值偏離標(biāo)稱值、容許損耗率降低等。但是我們也可以利用電阻的這種特性，例如，有一種特別設(shè)計的電阻類型：PTC(正溫系數(shù)熱敏電阻)和NTC(負(fù)溫系數(shù)熱敏電阻)，它們的阻值與溫度密切相關(guān)。

機(jī)器振動會松動焊點(diǎn)、壓線點(diǎn)，造成接觸不良等機(jī)械損傷。

電容量元件。

其失效方式主要有擊穿、機(jī)械損傷、電解液泄漏等。

發(fā)生電容擊穿的原因是：

1.介質(zhì)中有缺陷、雜質(zhì)和傳導(dǎo)離子。

2.是介質(zhì)發(fā)生老化。

3.介質(zhì)材料存在電、氣間隙擊穿現(xiàn)象。

4.加工過程中的介質(zhì)機(jī)械損傷。

5.介質(zhì)分子結(jié)構(gòu)發(fā)生了變化。

金屬離子遷移形成導(dǎo)電通道或邊緣的飛弧放電。

放電故障也可能是開路引起的，放電時引出線與電容接觸處氧化，導(dǎo)致低水平放電，放電線與電極接觸不良，電解電容器陽極引出金屬箔，因機(jī)械斷裂等引起放電故障。因此，電容也可能是電參數(shù)退化故障的結(jié)果，例如：電極材料中的金屬離子發(fā)生遷移，材料中的金屬化電極產(chǎn)生自愈作用，電極的電解腐化和化學(xué)腐化，潮濕，表面污染等等，都會引起電容參數(shù)的退化。

電感元件

感應(yīng)元件主要包括變壓器、電感、濾波線圈、振蕩線圈等。大多數(shù)電感元件故障是由外部因素引起的，如：變壓器溫度升高，負(fù)載短路使線圈通過的電流過大，等等，都會使線圈發(fā)生短路、短路和擊穿故障。

IC中，無論哪一個部件出了問題，整個電路都不能正常工作，如：電極短路、開路、機(jī)械磨損、焊性差等都會失效。故障主要分為完全故障和熱穩(wěn)定性不穩(wěn)定故障等，熱穩(wěn)定性故障主要發(fā)生在高溫或低溫，超過設(shè)備工作溫度范圍后發(fā)生故障。

那么，怎樣才能有效地發(fā)現(xiàn)故障，并更換或修復(fù)故障呢？

當(dāng)電路出現(xiàn)故障或在調(diào)試中不能正常工作時。第一，采用動態(tài)觀察法，即在將線路設(shè)備通電的情況下，通過聽、看、摸、聞等方法判斷電子元件的故障。例如：聽覺設(shè)備是否有異常聲音’仔細(xì)觀察電路中是否有冒煙、火花等情況；摸一摸元件、電路是否有發(fā)熱情況；聞一聞是否有焦糊等氣味。